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高速加速寿命試験(HAST/PCT) High Accelerated Stress Test / Pressure Cooker Test
日期:2025-03-24 01:00
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摘要:高速加速寿命試験(HAST/PCT)
High Accelerated Stress Test / Pressure Cooker Test
高速加速寿命試験(HAST/PCT)
High Accelerated Stress Test / Pressure Cooker Test
| ■試験概要 | |||
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電子機器関連の環境系信頼性試験で最も使用されている試験方法が不飽和(85%RH)プレッシャークッカー試験(HAST:High Accelerated Stress Test)です。この試験の目的は、電子機器関連の加速性を伴う耐湿性評価で、IEC60068-2-66 www.hast.cnで規定されます。 |
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| Table 1 HAST試験条件 | |||
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| Fig.1 HAST試験装置イメージ図 | |||
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※二層式試験装置は、試験槽と加湿槽が独立した構造であるため、一槽式に比べ広い槽内寸法の確保が可能です。また、試験槽(乾球)と加湿槽(湿球)間で及ぼしあう温度影響が少ないので高精度制御が可能と言われていますが、試験結果に大きな有意差はありません。www.hast.cn |
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| ■用途・規格 | |||
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◆JIS C 60068:環境試験方法−電気・電子−高温高湿、定常(不飽和加圧水蒸気) |


