Lab Companion半导体芯片测试设备

日期：2025-05-14 05:27

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摘要：HAST 带电高加速温湿度应力试验设备 Highly Accelerated Temp&Humiditu Stress Test uHAST 不带电加速温湿度应力试验设备 Unbiased HAST HTSL/Baking 高温存储/烘烤设备 High TemperatureStorage Life LTSL 低温存储试验设备 Low Temperature Storage Life TC 温度循环试验设备 Temperature Cycling TS 温度冲击试验设备 Thermal Shock THB/85/85 高温高湿偏压试验/带电双85设备 Temperature Humidity Blas TH(THS/THC)温湿度(存储循环)试验设备 Temperature Humidity

HAST 带电高加速温湿度应力试验设备

Highly Accelerated Temp&Humiditu
Stress Test

uHAST 不带电加速温湿度应力试验设备
Unbiased HAST

HTSL/Baking 高温存储/烘烤设备
High TemperatureStorage Life

LTSL 低温存储试验设备
Low Temperature Storage Life

TC 温度循环试验设备
Temperature Cycling

TS 温度冲击试验设备
Thermal Shock

THB/85/85 高温高湿偏压试验/带电双85设备
Temperature Humidity Blas

TH(THS/THC)温湿度(存储循环)试验设备

Temperature Humidity

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